ARÉVALO RIVERA, José Adrián. La tecnología y el efecto Flynn. Revista Universitaria de Informática RUNIN, [S. l.], v. 5, n. 8, p. 10–16, 2019. Disponível em: https://revistas2.udenar.edu.co/index.php/runin/article/view/5982. Acesso em: 12 ene. 2026.